Advanced Materials Characterization Techniques

Sprache: Englisch

Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing Okt 2022, 2022

6205501902 / 9786205501900

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advanced Materials Characterization Techniques: Material Characterization - Electronic & Optical Properties of the Nanomaterials of Computational Science describes how computational methods and tools function to assist in resolving issues in nanoscale technology and science. The book focuses on the development of electron beam epitaxy, molecular beam epitaxy, fine line lithography, and other experimental techniques, low dimensional quantum effect devices with quantum confinements in one, two, and three dimensions of the wave vector space, such as quantum wells, metal oxide semiconductor field effect transistors, quantum wires, and quantum dots, magnetic quantization, magneto quantum size effects, magnetic inversion layers, superlattices, and field effect transistors. The electron transport in semiconductor devices is essentially determined by their respective band structures. Thus, the nature of the electronic properties become different in the aforementioned systems and varies with the magnitude of the quantizing magnetic field, the quantizing electric field and other types of quantum confined structures. 692 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9786205501900

Titel
Advanced Materials Characterization Techniques
Autor
Subhamoy Singha Roy
Verlag
LAP LAMBERT Academic Publishing Okt 2022
Erscheinungsjahr
2022
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
6205501902
ISBN-13
9786205501900
Artikelgewicht
1.048 Gramm
Abmessungen
220x150x42 mm

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