Advanced Test Methods for SRAMs

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US, Springer New York Sep 2014, 2014

1489983147 / 9781489983145

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 188 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781489983145

Titel
Advanced Test Methods for SRAMs
Autor
Alberto Bosio
Verlag
Springer US, Springer New York Sep 2014
Erscheinungsjahr
2014
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1489983147
ISBN-13
9781489983145
Artikelgewicht
295 Gramm
Abmessungen
235x155x11 mm

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