Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2016

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Titel
Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience
Autor
Zuo, Jian Min; Spence, John C.H.
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2016
Zustand
New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
1493966057
ISBN-13
9781493966059

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