Advanced Transmission Electron Microscopy

Sprache: Englisch

Verlag: Springer New York Okt 2016, 2016

1493966057 / 9781493966059

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This volume expands and updates the coverage in the authors' popular 1992 book, Electron Microdiffraction. As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy. Special attention is given to electron diffraction and imaging, including high-resolution TEM and STEM imaging, and the application of these methods to crystals, their defects, and nanostructures. The authoritative text summarizes and develops most of the useful knowledge which has been gained over the years from the study of the multiple electron scattering problem, the recent development of aberration correctors and their applications to materials structure characterization, as well as the authors' extensive teaching experience in these areas. Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience is ideal for use as an advanced undergraduate or graduatelevel text in support of course materials in Materials Science, Physics or Chemistry departments. 756 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781493966059

Titel
Advanced Transmission Electron Microscopy
Autor
John C. H. Spence
Verlag
Springer New York Okt 2016
Erscheinungsjahr
2016
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1493966057
ISBN-13
9781493966059
Artikelgewicht
1.422 Gramm
Abmessungen
241x160x44 mm

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