Advances in X-Ray Analysis

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Nov 2012, 2012

1461365325 / 9781461365327

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index. 648 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461365327

Titel
Advances in X-Ray Analysis
Autor
C. S. Barrett
Verlag
Springer US Nov 2012
Erscheinungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461365325
ISBN-13
9781461365327
Artikelgewicht
1.100 Gramm
Abmessungen
244x170x35 mm

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