Advances in X-Ray Analysis

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Okt 2012, 2012

1461362938 / 9781461362937

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The 41st Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 3-7, 1992, at the Sheraton Colorado Springs Hotel, Colorado Springs, Colorado. The Conference is recognized to be a major event in the x-ray analysis field, bringing together scientists and engineers from around the world to discuss the state of the art in x-ray applications as well as indications for further developments. In recent years, one of the most exciting and important developments in the x-ray field has been the applications of grazing-incidence x-rays for surface and thin-film analysis. To introduce the conference attendees to these 'leading-edge' developments, the topic for the Plenary Session was 'Grazing-Incidence X Ray Characterization of Materials. ' The Conference had the privilege of inviting leading experts in the field of x-ray thin film analysis to deliver lectures at the Plenary Session. Dr. D. K. Bowen, University of Warwick, U. K. , opened the session with a lecture on 'Grazing Incidence X-Ray Scattering from Thin Films. ' He reviewed and compared grazing incidence diffraction, fluorescence and reflectivity techniques. Results of experimental and theoretical analysis were also discussed. Dr. B. Lenge1er, Forchungszentrum Ju1ich, Germany, followed with a lecture on 'Grazing Incidence Diffuse X-Ray Scattering from Thin Films. ' He concentrated on the use of newly developed 'off-specular' reflectivity techniques for the determination of vertical roughness, lateral correlation length and contour exponent on surfaces. 712 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461362937

Titel
Advances in X-Ray Analysis
Autor
John V. Gilfrich
Verlag
Springer US Okt 2012
Veröffentlichungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461362938
ISBN-13
9781461362937
Artikelgewicht
1.315 Gramm
Abmessungen
254x178x38 mm

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