Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Sprache: Englisch

Verlag: Springer New York Jan 2013, 2013

1461461626 / 9781461461623

Serie: Buch 57 von 124 - Analog Circuits and Signal Processing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed. The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs. 216 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461461623

Titel
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Autor
Georges Gielen
Verlag
Springer New York Jan 2013
Veröffentlichungsjahr
2013
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461461626
ISBN-13
9781461461623
Artikelgewicht
494 Gramm
Abmessungen
241x160x15 mm
Serie
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal Processing

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