Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test of Mixed-Signal Integrated Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US, Springer New York Sep 2012, 2012

1461359929 / 9781461359920

Serie: Buch 88 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test (BIST) of Mixed-Signal Integrated Circuits is a concise introduction to a powerful new signal generation technique. The book begins with a brief introduction to the testing problem and a review of conventional signal generation techniques. The book then describes an oversampling-based oscillator capable of generating high-precision analog tones using a combination of digital logic and D/A conversion. These concepts are then extended to multi-tone testing schemes without introducing a severe hardware penalty. The concepts are extended further to encompass piece-wise linear waveforms such as square, triangular and sawtooth waves. Experimental results are presented to verify the ideas in each chapter and finally, conclusions are drawn. For those readers unfamiliar with delta-sigma modulation techniques, a brief introduction to this subject is also provided in an appendix. The book is ideal for test engineers, researchers and circuits designers with an interest in IC testing methods. 136 pp. Englisch. …

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461359920

Titel
Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test of Mixed-Signal Integrated Circuits
Autor
Albert K. Lu
Verlag
Springer US, Springer New York Sep 2012
Erscheinungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461359929
ISBN-13
9781461359920
Artikelgewicht
209 Gramm
Abmessungen
229x152x8 mm
Serie
Buch 88 von 260: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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