Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Nov 2014, 2014

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The reliable operation of integrated circuits (ICs) has become increasingly dif cult to achieve in the deep submicron (DSM) era. With continuouslydecreasing device feature sizes, combinedwith lower supply voltages and higher operating frequencies, the noise immunity of VLSI circuits is decreasing alarmingly. Thus, VLSI circuits are becoming more vulnerable to noise effects such as crosstalk, power supply variations, and radiation-inducedsoft errors. Among these noise sources, soft errors(or error caused by radiation particle strikes) have become an increasingly troublesome issue for memory arrays as well as c- binational logic circuits. Also, in the DSM era, process variations are increasing at a signi cant rate, making it more dif cult to design reliable VLSI circuits. Hence, it is important to ef ciently design robust VLSI circuits that are resilient to radiation particle strikes and process variations. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 236 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781489985101

Titel
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits
Autor
Rajesh Garg
Verlag
Springer, Springer Nov 2014
Erscheinungsjahr
2014
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1489985107
ISBN-13
9781489985101
Artikelgewicht
365 Gramm
Abmessungen
235x155x13 mm

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