Analytical Electron Microscopy for Materials Science

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Japan Sep 2002, 2002

4431703365 / 9784431703365

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation. 168 pp. Englisch. …

Bestandsnummer des Verkäufers 9784431703365

Titel
Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Autor
T. Oikawa
Verlag
Springer Japan Sep 2002
Erscheinungsjahr
2002
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
4431703365
ISBN-13
9784431703365
Artikelgewicht
428 Gramm
Abmessungen
280x210x10 mm

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