Angewandte Oberfl?chenanalyse mit SIMS, AES und XPS (German Edition)

Grasserbauer, Manfred; Dudek, Hans Joachim; Ebel, Maria F.

ISBN 10: 3112702662 ISBN 13: 9783112702666
Verlag: De Gruyter, 1986
Sprache: Deutsch
Zustand: Neu Hardcover

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