Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2002

3540434437 / 9783540434436

Serie: Buch 83 von 227 - Springer Tracts in Modern Physics

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Titel
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)
Autor
Waseda, Yoshio
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2002
Zustand
New
Einband
hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540434437
ISBN-13
9783540434436
Artikelgewicht
39 Unzen
Abmessungen
6x0x9
Serie
Buch 83 von 227: Springer Tracts in Modern Physics

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