Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method

Pierre-Richard Dahoo|Philippe Pougnet|Abdelkhalak El Hami

ISBN 10: 1786306875 ISBN 13: 9781786306876
Verlag: John Wiley & Sons, 2021
Sprache: Englisch
Neu Zustand: New Hardcover

Verkäufer moluna, Greven, Deutschland

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