Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics)

Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak

ISBN 10: 1786306875 ISBN 13: 9781786306876
Verlag: Wiley-ISTE, 2021
Sprache: Englisch
Neu Zustand: New Hardcover

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