Applied Scanning Probe Methods I

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Berlin Heidelberg Jan 2004, 2004

3540005277 / 9783540005278

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques willbenefit from the international perspective assembled in the book. 500 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783540005278

Titel
Applied Scanning Probe Methods I
Autor
Bharat Bhushan
Verlag
Springer Berlin Heidelberg Jan 2004
Erscheinungsjahr
2004
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540005277
ISBN-13
9783540005278
Artikelgewicht
1.002 Gramm
Abmessungen
241x160x35 mm

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