Applied Scanning Probe Methods I

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Dez 2010, 2010

3642056024 / 9783642056024

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques will benefit from the international perspective assembled in the book.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 500 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783642056024

Titel
Applied Scanning Probe Methods I
Autor
Bharat Bhushan
Verlag
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Dez 2010
Erscheinungsjahr
2010
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3642056024
ISBN-13
9783642056024
Artikelgewicht
842 Gramm
Abmessungen
235x155x31 mm

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Emtmannsberg, BAYE, Deutschland

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