Applied Scanning Probe Methods III: Characterization (NanoScience and Technology) (v. 3)

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2006

3540269096 / 9783540269090

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Titel
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization (NanoScience and Technology) (v. 3)
Autor
Bhushan, B. (editor); Fuchs, H. (editor)
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2006
Zustand
New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540269096
ISBN-13
9783540269090
Verkäuferkataloge
Science: Physics

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