Applied Scanning Probe Methods X

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Jan 2008, 2008

3540740848 / 9783540740841

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I-VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VIII), characterization (Vol. IX), and biomimetics and industrial applications (Vol. X). These three volumes complement the previous set of volumes under the subject topics and give insight into the recent work of leading specialists in their respective elds. Following the tradition of the series, the chapters are arranged around techniques, characterization and biomimetics and industrial applications. Volume VIII focuses on novel scanning probe techniques and the understanding of tip/sample interactions. Topics include near eld imaging, advanced AFM, s- cializedscanningprobemethodsinlifesciencesincludingnewselfsensingcantilever systems, combinations of AFM sensors and scanning electron and ion microscopes, calibration methods, frequency modulation AFM for application in liquids, Kelvin probe force microscopy, scanning capacitance microscopy, and the measurement of electrical transport properties at the nanometer scale. Vol. IX focuses on characterization of material surfaces including structural as well as local mechanical characterization, and molecular systems. The volume covers a broad spectrum of STM/AFM investigations including fullerene layers, force spectroscopy for probing material properties in general, biological lms .and cells, epithelial and endothelial layers, medical related systems such as amyloidal aggregates, phospholipid monolayers, inorganic lms on aluminium and copper - ides,tribological characterization, mechanical properties ofpolymernanostructures,technical polymers, and near eld optics. 492 pp. Englisch. …

Bestandsnummer des Verkäufers 9783540740841

Titel
Applied Scanning Probe Methods X
Autor
Bharat Bhushan
Verlag
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Jan 2008
Erscheinungsjahr
2008
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540740848
ISBN-13
9783540740841
Artikelgewicht
898 Gramm
Abmessungen
241x160x32 mm

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