Atom-Probe Tomography

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US, Springer New York Aug 2014, 2014

1489974296 / 9781489974297

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materialswith atom probe tomography.Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation andfield ion microscopy. The fundamental underlying physics principles are examined, in addition to data reconstruction and visualization, statistical data analysis methods and specimen preparation by electropolishing and FIB-based techniques. Afull description of the local electrode atom probe ¿ a new state-of-the-art instrument ¿ is also provided, along with detailed descriptions and limitations of laser pulsing as a method to field evaporate atoms. Valuable coverage of the new ionization theory is also included, which underpins the overall technique.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 444 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781489974297

Titel
Atom-Probe Tomography
Autor
Richard G. Forbes
Verlag
Springer US, Springer New York Aug 2014
Erscheinungsjahr
2014
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1489974296
ISBN-13
9781489974297
Artikelgewicht
828 Gramm
Abmessungen
241x160x30 mm

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