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Bibliografische Details

Titel

The BUGBOOK 1. Logic & Memory Experiments. Using TTL Itegrated Circuits.

Verlag

E&L Instruments INC:

Erscheinungsjahr

1974

Sprache

Deutsch

Einband

Softcover/Paperback

Zustand

Gut

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Anbieterinformationen

Sitz der Gesellschaft: Fachbuecher-Weltversand NEPO UG Bahnhofsplatz 1 65428 R�sselsheim am Main eingetragen im Handelsregister des Amtsgerichtes Darmstadt Handelsregisternummer HRB 103822 ** Versandanschrift: Fachbuecher-Weltversand NEPO UG Bahnhofsplatz 1 65428 R�sselsheim am Main eingetragen im Handelsregister des Amtsgerichtes Darmstadt Handelsregisternummer HRB 103822 ** kundenservice @ fachbuecher-weltversand.de Umsatzsteuer-Identifikationsnummer gem�� 27a Umsatzsteuergesetz DE240798524

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