Built-In Test For VLSI

Sprache: Englisch

Verlag: John Wiley & Sons, 1987

0471624632 / 9780471624639

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Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and stud.

Bestandsnummer des Verkäufers 446917529

Titel
Built-In Test For VLSI
Autor
PH Bardell
Verlag
John Wiley & Sons
Erscheinungsjahr
1987
Zustand
New
Einband
Gebunden
Sprache
Englisch
ISBN-10
0471624632
ISBN-13
9780471624639

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