CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Andrei Pavlov Manoj Sachdev

ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Verlag: Springer, 2010
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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