Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

Sprache: Englisch

Verlag: Taylor and Francis Ltd, GB, 2000

075030748X / 9780750307482

Serie: Buch 3 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science

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Artikelbeschreibung vom Verkäufer

Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. The book focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops, because the coverage in general microscopy textbooks is limited and omits many of the problems associated with the analysis of these defects. The book also describes in situ, high-resolution, and analytical techniques. Techniques are illustrated with examples, providing a solid overview of the contribution of TEM to radiation damage mechanisms. The book is most useful to researchers in, or entering into, the field of defect analysis in materials.

Bestandsnummer des Verkäufers LU-9780750307482

Titel
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Autor
M.L Jenkins, M.A Kirk
Verlag
Taylor and Francis Ltd, GB
Veröffentlichungsjahr
2000
Zustand
New
Einband
Hardback
Sprache
Englisch
ISBN-10
075030748X
ISBN-13
9780750307482
Artikelgewicht
540 Gramm
Serie
Buch 3 von 5: Series in Microscopy in Materials Science

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