Chemical, Structural and Electronic Analysis of Heterogeneous Surfaces on Nanometer Scale

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Okt 2012, 2012

9401064148 / 9789401064149

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -An assessment of the recent achievements and relative strengths of two developing techniques for characterising surfaces at the nanometer scale: (i) local probe methods, including scanning tunnelling microscopy and its derivatives; and (ii) nanoscale photoemission and absorption spectroscopy for chemical analysis.The keynote lectures were delivered by some of the world's best scientists in the field and some of the topics covered include: (1) The possible application of STM in atomically resolved chemical analysis. (2) The principles of scanning force/friction and scanning near-field optical microscopes. (3) The scanning photoemission electron microscopes built at ELETTRA and SRRC, with a description of synchrotron radiation microscopy. (4) Recent progress in the development of spatially-resolved photoelectron microscopy, especially the use of zone plate photon optics. (5) The present status of non-scanning photoemission microscopy with slow electrons. (6) the BESSY 2 project for a non-scanning photoelectron microscope with electron optics. (7) Spatially-resolved in situ reaction studies of chemical waves and oscillatory phenomena with the UV photoemission microscope.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 148 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9789401064149

Titel
Chemical, Structural and Electronic Analysis of Heterogeneous Surfaces on Nanometer Scale
Autor
R. Rosei
Verlag
Springer, Springer Okt 2012
Erscheinungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
9401064148
ISBN-13
9789401064149
Artikelgewicht
249 Gramm
Abmessungen
240x160x9 mm

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