From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 1996

0792397142 / 9780792397144

Serie: Buch 28 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

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Titel
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)
Autor
Khare, Jitendra B.; Maly, Wojciech
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
1996
Zustand
New
Einband
hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0792397142
ISBN-13
9780792397144
Artikelgewicht
33 Unzen
Abmessungen
6x0x9
Serie
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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