From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US, Springer US Apr 1996, 1996

0792397142 / 9780792397144

Serie: Buch 28 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000

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Artikelbeschreibung vom Verkäufer

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing efficiency. However, this greater functionality has also resulted in substantial increases in the capital investment needed to build fabrication facilities. Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.Modern VLSI research and engineering (which includes design manufacturing and testing) encompasses a very broad range of disciplines such as chemistry, physics, material science, circuit design, mathematics and computer science. Due to this diversity, the VLSI arena has become fractured into a number of separate sub-domains with little or no interaction between them. This is the case with the relationships between testing and manufacturing.From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, i.e., the contamination-defect-fault relationship. The understanding of this relationship can lead to better solutions of many manufacturing and testing problems.Failure mechanism models are developed and presented which can be used to accurately estimate probability of different failures for a given IC. This information is critical in solving key yield-related applications such as failure analysis, fault modeling and design manufacturing. 172 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780792397144

Titel
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Autor
Wojciech Maly
Verlag
Springer US, Springer US Apr 1996
Veröffentlichungsjahr
1996
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0792397142
ISBN-13
9780792397144
Artikelgewicht
430 Gramm
Abmessungen
241x160x16 mm
Serie
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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