Data Model Patterns: A Metadata Map (The Morgan Kaufmann Series in Data Management Systems)

Hay, David C.

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Sprache: Englisch

Verlag: Morgan Kaufmann, 2006

0120887983 / 9780120887989

Serie: Buch 42 von 52 - The Morgan Kaufmann Series in Data Management Systems

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Titel
Data Model Patterns: A Metadata Map (The Morgan Kaufmann Series in Data Management Systems)
Autor
Hay, David C.
Verlag
Morgan Kaufmann
Erscheinungsjahr
2006
Zustand
New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0120887983
ISBN-13
9780120887989
Serie
Buch 42 von 52: The Morgan Kaufmann Series in Data Management Systems

SHIMEDIA

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