Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon

Sprache: Englisch

Verlag: Springer International Publishing Sep 2016, 2016

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Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs. 188 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783319356105

Titel
Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Autor
Görschwin Fey
Verlag
Springer International Publishing Sep 2016
Erscheinungsjahr
2016
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3319356100
ISBN-13
9783319356105
Artikelgewicht
329 Gramm
Abmessungen
235x155x10 mm

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