Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Berlin, Springer Nature Switzerland, Springer, 2025

3031756525 / 9783031756528

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides a comprehensive overview of the latest advances in applying Artificial Intelligence (AI) to advanced X-ray imaging, with a particular focus on its medical applications. Readers will discover why AI is set to revolutionize traditional signal processing and image reconstruction with vastly improved performance. The authors illustrate how Machine Learning (ML) and Deep Learning (DL) significantly advance X-ray detection analysis, image reconstruction, and other crucial steps. This book also reveals how these technologies enable photon counting detector-based X-ray Computed Tomography (CT), which has the potential not only to improve current CT images but also enable new clinical applications, such as providing higher spatial resolution, better soft tissue contrast, K-edge imaging, and simultaneous multi-contrast agent imaging. 261 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9783031756528

Titel
Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications
Autor
Krzysztof (Kris) Iniewski
Verlag
Springer, Berlin, Springer Nature Switzerland, Springer
Erscheinungsjahr
2025
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3031756525
ISBN-13
9783031756528
Artikelgewicht
520 Gramm
Abmessungen
235x155x18 mm

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