Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Humana Mai 2013, 2013

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 332 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781475799590

Titel
Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Autor
C. H. Stapper
Verlag
Springer, Humana Mai 2013
Erscheinungsjahr
2013
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1475799594
ISBN-13
9781475799590
Artikelgewicht
626 Gramm
Abmessungen
254x178x19 mm

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