Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2010

1441942858 / 9781441942852

Serie: Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781441942852

Titel
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor
Manoj Sachdev
Verlag
Springer
Veröffentlichungsjahr
2010
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1441942858
ISBN-13
9781441942852
Artikelgewicht
534 Gramm
Abmessungen
235x155x20 mm
Serie
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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