Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2007

0387465464 / 9780387465463

Serie: Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

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pp. 352 2nd Edition.

Bestandsnummer des Verkäufers 26282698

Titel
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor
Jose Pineda de Gyvez Manoj Sachdev
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2007
Zustand
New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0387465464
ISBN-13
9780387465463
Auflage
2. Auflage
Serie
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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