Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Jun 2007, 2007

0387465464 / 9780387465463

Serie: Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 11. Januar 2012

Hardcover

Zustand: Neu

EUR 213,99

EUR 23,00 Versand 
Versand von Deutschland nach USA

Anzahl: 2 verfügbar

In den Warenkorb
30 Tage kostenlose Rückgabe

Artikelbeschreibung des Verkäufers

This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield. The chapter on RAM testing has been updated with focus on parametric and SRAM stability testing. Similarly, newer material has been incorporated in digital fault modeling and analog testing chapters. The strength of Defect Oriented Testing for nano-Metric CMOS VLSIs lies in its industrial relevance. 352 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780387465463

Titel
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor
José Pineda de Gyvez
Verlag
Springer US Jun 2007
Erscheinungsjahr
2007
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0387465464
ISBN-13
9780387465463
Auflage
2. Auflage
Artikelgewicht
694 Gramm
Abmessungen
241x160x24 mm
Serie
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Deutschland

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 11. Januar 2012

Versandkosten von Deutschland nach USA

Artikel5 bis 15 Werktage5 bis 15 Werktage
Erster ArtikelEUR 23,00EUR 23,00
Die Versandzeiten werden von den Verkäuferinnen und Verkäufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, können Verzögerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Gebühren sind von der Käuferin bzw. dem Käufer zu tragen. Die Verkäuferin bzw. der Verkäufer kann Sie bezüglich zusätzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen möglichen Anstieg der Versandkosten für Ihre Artikel auszugleichen.

Zahlungsarten

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Banküberweisung
  • PayPal
  • Vorauskasse

Unternehmensdaten der Verkäuferin bzw. des Verkäufers

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Deutschland