Defect Oriented Testing For Nano Metric Cmos Vlsi Circuits

Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Sachdev

ISBN 10: 8184894295 ISBN 13: 9788184894295
Verlag: Springer India, 2021
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

Verkauft von Books in my Basket, New Delhi, Indien

AbeBooks-Verkäufer seit 10. September 2010

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Neu - Softcover

Zustand: Neu

Preis:
EUR 7,92
EUR 20,00 Versand
Versand von Indien nach USA

Derzeit nicht verfügbar auf AbeBooks.de

Finden Sie diesen Artikel auf AbeBooks.com

Zu AbeBooks.com gehen