Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures

Sprache: Englisch

Verlag: Elsevier Inc Jun 2018, 2018

0081020538 / 9780081020531

Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures provides a comprehensive review on the recent progress in solving defect issues and deliberate defect engineering in novel material systems. It begins with an overview of point defects in ZnO and group-III nitrides, including irradiation-induced defects, and then look at defects in one and two-dimensional materials, including carbon nanotubes and graphene. Next, it examines the ways that defects can expand the potential applications of semiconductors, such as energy upconversion and quantum processing. The book concludes with a look at the latest advances in theory. While defect physics is extensively reviewed for conventional bulk semiconductors, the same is far from being true for novel material systems, such as low-dimensional 1D and 0D nanostructures and 2D monolayers. This book fills that necessary gap. 308 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780081020531

Titel
Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures
Autor
Weimin Chen
Verlag
Elsevier Inc Jun 2018
Veröffentlichungsjahr
2018
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0081020538
ISBN-13
9780081020531
Artikelgewicht
415 Gramm
Abmessungen
229x152x17 mm
Serie
Buch 112 von 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

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