Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Sep 1999, 1999

0792386698 / 9780792386698

Serie: Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted. 260 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9780792386698

Titel
Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Autor
Benoit Nadeau-Dostie
Verlag
Springer US Sep 1999
Erscheinungsjahr
1999
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0792386698
ISBN-13
9780792386698
Artikelgewicht
693 Gramm
Abmessungen
260x183x19 mm
Serie
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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