Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability

Sprache: Englisch

Verlag: Chapman & Hall, 2004

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1st edition. 248 pages. 9.75x6.75x0.75 inches. In Stock.

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Titel
Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
Autor
LuValle, Michael J. (Author)/ LeFevre, Bruce G. (Author)/ Kannan, SirRaman (Author)
Verlag
Chapman & Hall
Erscheinungsjahr
2004
Zustand
Brand New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
1584884711
ISBN-13
9781584884712
Artikelgewicht
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