Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Netherlands Sep 2012, 2012

9048196434 / 9789048196432

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Integrated circuits (ICs) increasingly exhibit uncertain characteristics due to soft errors, inherently probabilistic devices, and manufacturing variability. As device technologies scale, these effects can be detrimental to the reliability of logic circuits. To improve future semiconductor designs, this book describes methods for analyzing, designing, and testing circuits subject to probabilistic effects. The authors first develop techniques to model inherently probabilistic methods in logic circuits and to test circuits for determining their reliability after they are manufactured. Then, they study error-masking mechanisms intrinsic to digital circuits and show how to leverage them to design more reliable circuits. The book describes techniques for: Modeling and reasoning about probabilistic behavior in logic circuits, including a matrix-based reliability-analysis framework; Accurate analysis of soft-error rate (SER) based on functional-simulation, sufficiently scalable for use in gate-level optimizations; Logic synthesis for greater resilience against soft errors, which improves reliability using moderate overhead in area and performance; Test-generation and test-compaction methods aimed at probabilistic faults in logic circuits that facilitate accurate and efficient post-manufacture measurement of soft-error susceptibility. 136 pp. Englisch. …

Bestandsnummer des Verkäufers 9789048196432

Titel
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Autor
Smita Krishnaswamy
Verlag
Springer Netherlands Sep 2012
Veröffentlichungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
9048196434
ISBN-13
9789048196432
Artikelgewicht
377 Gramm
Abmessungen
241x160x13 mm

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