Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Jul 2007, 2007

1402051875 / 9781402051876

Serie: Buch 5 von 34 - Integrated Circuits and Systems

Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Manufacturability and yield are no longer a fabrication, packaging, and test concerns. They are aspects that have to be designed in, and they are everybody's responsibility. Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process and how to address each aspect at the proper design step starting with the layout of standard cells and how to yield-grade libraries for critical area and lithography artifacts through place and route, CMP model based simulation and dummy-fill insertion, and through statistical timing closure of the design. It alerts the designer to the pitfalls to watch for and to the good practices that can enhance a design's manufacturability and yield. A must read book for the serious designer.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 288 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781402051876

Titel
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Autor
Charles Chiang
Verlag
Springer, Springer Jul 2007
Erscheinungsjahr
2007
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1402051875
ISBN-13
9781402051876
Artikelgewicht
600 Gramm
Abmessungen
241x160x22 mm
Serie
Buch 5 von 34: Integrated Circuits and Systems

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