Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits: Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Negative capacitance circuits

Mostafa, Hassan, Anis, Mohab, Elmasry, Mohamed

ISBN 10: 365951361X ISBN 13: 9783659513619
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2014
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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