Electromigration Inside Logic Cells

Sprache: Englisch

Verlag: Berlin Springer International Publishing Springer Dez 2016, 2016

3319488988 / 9783319488981

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics. 118 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9783319488981

Titel
Electromigration Inside Logic Cells
Autor
Gracieli Posser
Verlag
Berlin Springer International Publishing Springer Dez 2016
Erscheinungsjahr
2016
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3319488988
ISBN-13
9783319488981
Artikelgewicht
327 Gramm
Abmessungen
242x163x14 mm

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