Electron Beam Testing Technology

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Jun 2013, 2013

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing. While ICs were being fabricated on design rules of several microns, the mechanical ne edle probe served quite adequately for internal chip probing. This scenario changed with growing device complexity and shrinking geometries, prompting IC manufacturers to take note ofthis new testing technology. It required several more years and considerable investment by electron beam tester manufacturers, however, to co me up with user-friendly automated systems that were acceptable to IC test engineers. These intervening years witnessed intense activity in the development of instrumentation, testing techniques, and system automation, as evidenced by the proliferation of technical papers presented at conferences. With the shift of interest toward applications, the technology may now be considered as having come of age. 480 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781489915245

Titel
Electron Beam Testing Technology
Autor
John T. L. Thong
Verlag
Springer US Jun 2013
Erscheinungsjahr
2013
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1489915249
ISBN-13
9781489915245
Artikelgewicht
895 Gramm
Abmessungen
254x178x26 mm

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