Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology

S. J. B. Reed

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Sprache: Englisch

Verlag: Cambridge University Press, GB, 2010

052114230X / 9780521142304

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Artikelbeschreibung vom Verkäufer

Originally published in 2005, this book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint. Topics discussed include: principles of electron-target interactions, electron beam instrumentation, X-ray spectrometry, general principles of SEM image formation, production of X-ray 'maps' showing elemental distributions, procedures for qualitative and quantitative X-ray analysis (both energy-dispersive and wavelength-dispersive), the use of both 'true' electron microprobes and SEMs fitted with X-ray spectrometers, and practical matters such as sample preparation and treatment of results. Throughout, there is an emphasis on geological aspects not mentioned in similar books aimed at a more general readership. The book avoids unnecessary technical detail in order to be easily accessible, and forms a comprehensive text on EMPA and SEM for geological postgraduate and postdoctoral researchers, as well as those working in industrial laboratories.

Bestandsnummer des Verkäufers LU-9780521142304

Titel
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Autor
S. J. B. Reed
Verlag
Cambridge University Press, GB
Veröffentlichungsjahr
2010
Zustand
New
Einband
Paperback
Sprache
Englisch
ISBN-10
052114230X
ISBN-13
9780521142304
Ausgabe
2. Auflage
Artikelgewicht
340 Gramm

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