Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology

S. J. B. Reed

6 Bewertungen von Goodreads

Sprache: Englisch

Verlag: Cambridge University Press, 2010

052114230X / 9780521142304

  • Softcover
  • Gebraucht
Alle Details anzeigen

Anbieter: Hamelyn, Madrid, M, SpanienHamelyn

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

Verkäufer:in bei AbeBooks seit 18. Juli 2022

Softcover

Zustand: Gebraucht - Gut

EUR 34,90

EUR 8,99 Versand 
Versand von Spanien nach USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb
30 Tage kostenlose Rückgabe

Artikelbeschreibung des Verkäufers

: Este libro, actualizado para cubrir los desarrollos recientes, abarca las técnicas estrechamente relacionadas del análisis de microsonda electrónica (EMPA) y la microscopía electrónica de barrido (SEM) específicamente desde un punto de vista geológico. Los temas tratados incluyen: principios de las interacciones electrón-blanco, instrumentación de haz de electrones, espectrometría de rayos X, principios generales de la formación de imágenes SEM, producción de 'mapas' de rayos X que muestran distribuciones elementales, procedimientos para el análisis cualitativo y cuantitativo de rayos X (tanto de dispersión de energía como de dispersión de longitud de onda), el uso de 'verdaderas' microsondas electrónicas y SEM equipados con espectrómetros de rayos X, y asuntos prácticos como la preparación de muestras y el tratamiento de resultados. Se hace hincapié en los aspectos geológicos no mencionados en libros similares dirigidos a un público más general. El libro evita detalles técnicos innecesarios para ser fácilmente accesible, y forma un texto actualizado sobre EMPA y SEM para investigadores geológicos de postgrado y postdoctorado, así como para aquellos que trabajan en laboratorios industriales. EAN: 9780521142304 Tipo: Libros Categoría: Ciencias Título: Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology Autor: S. J. B. Reed Idioma: en Páginas: 212 Formato: Tapa blanda.…

Bestandsnummer des Verkäufers Happ-2026-08-04-f528f450

Titel
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Autor
S. J. B. Reed
Verlag
Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2010
Zustand
Very Good
Einband
Softcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
052114230X
ISBN-13
9780521142304
Auflage
2. Auflage

Hamelyn

Madrid, M, Spanien

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

Verkäufer:in bei AbeBooks seit 18. Juli 2022

Versandkosten von Spanien nach USA

Artikel7 bis 12 Werktage2 bis 4 Werktage
Erster ArtikelEUR 8,99EUR 19,99
Die Versandzeiten werden von den Verkäuferinnen und Verkäufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, können Verzögerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Gebühren sind von der Käuferin bzw. dem Käufer zu tragen. Die Verkäuferin bzw. der Verkäufer kann Sie bezüglich zusätzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen möglichen Anstieg der Versandkosten für Ihre Artikel auszugleichen.

Zahlungsarten

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Shopbeschreibung

Hamelyn es una librería online ubicada en Madrid con más de 700.000 referencias distintas de libros de segunda mano. Todos pasan un exhaustivo control de calidad, reciclando todos aquellos que no se encuentren aptos para su lectura.

Unternehmensdaten der Verkäuferin bzw. des Verkäufers

Hamelyn Technologies

C. de los Llanos de Jerez, 1
Coslada, Madrid, Spanien 28823