Electron Microscopy and Analysis 2001

Sprache: Englisch

Verlag: CRC Press, 2001

0750308125 / 9780750308120

Serie: Buch 2 von 3 - Institute of Physics Conference Series

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M. Aindow. C.J. Kiely, Dept of Engineering, University of Liverpool, UK.Electron microscopy is now a mainstay characterization tool for solid state physicists and chemists as well as materials scientists. Electron Microscopy and Analysis 2001 presents a.

Bestandsnummer des Verkäufers 898571016

Titel
Electron Microscopy and Analysis 2001
Verlag
CRC Press
Erscheinungsjahr
2001
Zustand
New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0750308125
ISBN-13
9780750308120
Serie
Buch 2 von 3: Institute of Physics Conference Series

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