Ellipsometry at the Nanoscale

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Berlin Heidelberg Aug 2016, 2016

3662519712 / 9783662519714

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology of nanomaterials and related processes by illustrating its exploitation, ranging from fundamental studies of the physics and chemistry of nanostructures to the ultimate goal of turnkey manufacturing control. This book is written for a broad readership: materials scientists, researchers, engineers, as well as students and nanotechnology operators who want to deepen their knowledge about both basics and applications of ellipsometry to nanoscale phenomena. It starts as a general introduction for people curious to enter the fields of ellipsometry and polarimetry applied to nanomaterials and progresses to articles by experts on specific fields that span from plasmonics, optics, to semiconductors and flexible electronics. The core belief reflected in this book is that ellipsometry applied at the nanoscale offers new ways of addressing many current needs. The book also explores forward-looking potential applications. 756 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783662519714

Titel
Ellipsometry at the Nanoscale
Autor
Kurt Hingerl
Verlag
Springer Berlin Heidelberg Aug 2016
Erscheinungsjahr
2016
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3662519712
ISBN-13
9783662519714
Artikelgewicht
1.124 Gramm
Abmessungen
235x155x41 mm

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