Embedded Processor-Based Self-Test
Dimitris Gizopoulos
Verkauft von BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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In den Warenkorb legenThis item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always been a challenge because most traditional testing techniques fail when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit s performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures. 236 pp. Englisch.
Bestandsnummer des Verkäufers 9781402027857
Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always been a challenge because most traditional testing techniques fail when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit’s performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.
Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.
Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures.
Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always been a challenge because most traditional testing techniques fail when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit’s performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.
Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.
Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures.
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Geltungsbereich
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Widerrufsrecht
Preise und Zahlungsbedingungen
Liefer- und Versandbedingungen
Eigentumsvorbehalt
Mängelhaftung
Anwendbares Recht
Gerichtsstand
Alternative Streitbeilegung
Widerrufsbelehrung & Widerrufsformular
Verbrauchern steht ein Widerrufsrecht nach folgender Maßgabe zu, wobei Verbraucher jede natürliche Person ist, die ein Rechtsgeschäft zu Zwecken abschließt, die überwiegend weder ihrer gewerblichen noch ihrer selbständigen beruflichen Tätigkeit zugerechnet werden können:
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Widerrufsrecht
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Um Ihr Widerrufsrecht auszuüben, müssen Sie uns (BuchWeltWeit Inh. Ludwig Meier e.K., De-Gasperi-Str. 8, 51469 Bergisch Gladbach, Deutschland, Tel.: +49(0)22028659300, Fax: +49(0)22028659301, E-Mail: info@buchweltweit.de) mittels einer eindeutigen Erklärung (z. B. ein mit der Post versandter Brief, Telefax oder E-Mail) über Ihren Entschluss, diesen Vertrag zu widerrufen, informieren. Sie können dafür das beigefügte Muster-Widerrufsformular verwenden, das jedoch nicht vorgeschrieben ist.
Zur Wahrung der Widerrufsfrist reicht es aus, dass Sie die Mitteilung über die Ausübung des Widerrufsrechts vor Ablauf der Widerrufsfrist absenden.
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Sie haben die Waren unverzüglich und in jedem Fall spätestens binnen vierzehn Tagen ab dem Tag, an dem Sie uns über den Widerruf dieses Vertrags unterrichten, an uns zurückzusenden oder zu übergeben. Die Frist ist gewahrt, wenn Sie die Waren vor Ablauf der Frist von vierzehn Tagen absenden.
Sie tragen die unmittelbaren Kosten der Rücksendung der Waren.
Sie müssen für einen etwaigen Wertverlust der Waren nur aufkommen, wenn dieser Wertverlust auf einen zur Prüfung der Beschaffenheit, Eigenschaften und Funktionsweise der Waren nicht notwendigen Umgang mit ihnen zurückzuführen ist.
Ausschluss bzw. vorzeitiges Erlöschen des Widerrufsrechts
Das Widerrufsrecht erlischt vorzeitig bei Verträgen zur Lieferung von Ton- oder Videoaufnahmen oder Computersoftware in einer versiegelten Packung, wenn die Versiegelung nach der Lieferung entfernt wurde.
B. Widerrufsformular
Wenn Sie den Vertrag widerrufen wollen, dann füllen Sie bitte dieses Formular aus und senden es zurück.
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