Exponential Fatigue Life Model for Single-Edge-Notched Beams: An Analytical Approach to Structural Integrity and Fracture Behaviour

Baliarsingh, Avaya Kumar; Rath, Debabrata

ISBN 10: 6209272835 ISBN 13: 9786209272837
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2025
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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