Focused Ion Beam Systems (Paperback)

Sprache: Englisch

Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2011

0521158591 / 9780521158596

Anbieter: CitiRetail, Stevenage, Vereinigtes KönigreichCitiRetail

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 29. Juni 2022

Artikel dieses Verkäufers ansehen
Softcover

Zustand: Neu

EUR 85,48

EUR 43,26 Versand 
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb
Kostenlose Rückgaben innerhalb von 30 Tagen

Artikelbeschreibung vom Verkäufer

Paperback. The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780521158596

Titel
Focused Ion Beam Systems (Paperback)
Autor
Nan Yao
Verlag
Cambridge University Press, Cambridge
Veröffentlichungsjahr
2011
Zustand
new
Einband
Paperback
Sprache
Englisch
ISBN-10
0521158591
ISBN-13
9780521158596

CitiRetail

Stevenage, Vereinigtes Königreich

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 29. Juni 2022

Versandkosten von Vereinigtes Königreich nach USA

Artikel7 bis 14 Werktage7 bis 60 Werktage
Erster ArtikelEUR 43,26EUR 43,26
Die Versandzeiten werden von den Verkäuferinnen und Verkäufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, können Verzögerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Gebühren sind von der Käuferin bzw. dem Käufer zu tragen. Die Verkäuferin bzw. der Verkäufer kann Sie bezüglich zusätzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen möglichen Anstieg der Versandkosten für Ihre Artikel auszugleichen.

Zahlungsarten

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Shop-Beschreibung

Online business

Unternehmensdaten der Verkäuferin bzw. des Verkäufers

ABC BOOKS LIMITED

10 John Street
London, Vereinigtes Königreich WC1N 2EB