Goodhew, P: Electron Microscopy and Analysis

Peter J. Goodhew (University of Liverpool, England, UK)|John Humphreys (The University of Manchester, England, UK)|Richard Beanland (GEC-Marconi Materials Technology, England, UK)

ISBN 10: 1138441538 ISBN 13: 9781138441538
Verlag: CRC Press, 2017
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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